NFP-3 用于配合 RIGOL DSA 系列頻譜分析儀進行電子產(chǎn)品的 EMI 測試，可用來檢測元器 件表面的磁場強度、磁場耦合通道以及電子模塊附近的磁場環(huán)境，從而快速定位干擾源。 NFP-3 包含四個型號 NFP-3-P1、NFP-3-P2、NFP-3-P3 和 NFP-3-P4。

測量連接

 與頻譜分析儀連接
使用 BNC-SMB 射頻線纜分別連接 NFP-3 的 SMB（陽）頭和 N-BNC 轉(zhuǎn)接器的 BNC（陰） 頭，再將 N-BNC 轉(zhuǎn)接器的 N（陽）頭連接至頻譜分析儀的射頻輸入端。 

與被測設(shè)備連接
NFP-3 與被測設(shè)備近距離非接觸式測量。測量時，請注意近場探頭的擺放方向。
典型應(yīng)用

― EMI 輻射干擾源定位。

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